本文標(biāo)題："相襯顯微鏡的原理-借助圖像的反差襯度觀察"
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人瀏覽過-----時(shí)間：2014-5-22 17:10:30
相襯顯微鏡的原理-借助圖像的反差襯度觀察
顯微鏡(OM, SEM ,TEM , AM) 主要依靠波源與物體相互作用
時(shí)改變折射率( 波速) 或吸收性來放大成像. 人們也可以利用一
根掃描探針去獲得一個(gè)物體樣品的信息，類似于盲人使用拐杖一
樣。
這種收染信息的方法依賴于樣品表面與一個(gè)點(diǎn)源的局域化相
互作
用，此時(shí)僅收集到樣品的表面形貌。并不像采用波源的顯微
鏡可以獲得樣品表面以下的形貌。掃描探針顯微鏡的探針掃過樣
品形貌時(shí)可能發(fā)生許多“表面一針尖”的相互作用，這些作用可
能是吸引或排斥的原子一原子相互作用，也可能為磁力、靜電力、
電荷( 離子或電子) 交換作用，從而形成不同類型的顯微鏡，統(tǒng)
稱為掃描探針顯微鏡(scanning probe microscopy，SPM)。
掃描探針顯微鏡的分辨率取決于針尖的半徑以及表面一針尖
相互作用的距離。例如，對(duì)于掃描隧道顯微鏡(scanning tunneling
mi- croscopy, STM ) ，其圖像的反差襯度來源于電子發(fā)生隧道
效應(yīng)產(chǎn)生的電流，它與距離成指數(shù)下降關(guān)系，這種距離的靈敏度
在原子線度內(nèi)具有原子分辨率。
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