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本文標題："顯微鏡分析切片技術-復型品用TEM進行檢測"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-6-27 17:15:42

顯微鏡分析切片技術-復型品用TEM進行檢測

切片技術一個替代方法是制備樣品表面碳一鉑復型品的方法。制備復型品時，將鉑以

20°角噴射在樣品表面(在真空狀態下通過耐熱蒸發器連接在碳弧.上，或用離子濺射在鉑

靶上)，然后碳層直接從表面蒸發掉(碳弧或耐熱性碳纖維)。

碳形成一個連接層，而金屬鉑可以根據樣品的表面波動形成圖像。樣品可以從復型品中溶

解掉(有時不容易做到)，然后復型品用TEM進行檢測。復型技術會產生熱量，所以在通常

情況下，僅適用于固體和熱穩定性樣品。不耐熱的樣品可以用冷凍法復制，或在復制過程

中保持冷凍狀態，這些方法與冷凍斷裂和冷凍蝕刻技術有關

表面復型技術為超薄切片提供了一種有效方法，并可以避免化學固定和乙醉脫水的影

響。因此，可以采用此方法從超薄切片中觀測重要發現，有助于解釋超薄切片圖像的

含義。

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