本文標(biāo)題："實(shí)驗(yàn)室太陽(yáng)電池分析技術(shù)中顯微鏡的應(yīng)用"
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實(shí)驗(yàn)室太陽(yáng)電池分析技術(shù)中顯微鏡的應(yīng)用
干涉顯微技術(shù)是一種傳統(tǒng)的分析技術(shù)，也是眾多探測(cè)表面形貌技術(shù)中的一種，已被
成功應(yīng)用于生物領(lǐng)研，但在OPV領(lǐng)域目前還沒有廣泛應(yīng)用.干涉顯微技術(shù)的橫向分辨率低于AFM，
但其優(yōu)勢(shì)在于掃描范圍廣泛采集速度快。從實(shí)驗(yàn)室太陽(yáng)電池到大面積太陽(yáng)電池如卷對(duì)卷的發(fā)展
過程，要求有相應(yīng)分析技術(shù)的改變。而對(duì)大面積電池的快速分析，
具有長(zhǎng)遠(yuǎn)性的意義。
干涉顯微技術(shù)是通過鋁電極及對(duì)應(yīng)的微孔在OPV器件表面上的探測(cè)
而獲得相應(yīng)的圖講，
構(gòu)的有機(jī)太陽(yáng)電池中，鋁電極干涉.顯微鏡圖(134 fun X 179 tim)，電極表面布滿突起的微孔，
水平的白色線表示掃描的位拼3) )。突起的部分是氧分子通過微孔擴(kuò)散后與有機(jī)材料反應(yīng)
而形成的，這種突起最終延伸到全部范圍內(nèi)(由于攝級(jí)量的原因)。可以在無包粗的OPV電
極表面迅速和簡(jiǎn)易地探測(cè)到突起部分的密度和大小，是一種有效地研究衰減機(jī)制的方法。
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