本文標(biāo)題："晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測(cè)用電子顯微鏡的常識(shí)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2014-8-20 12:41:33
晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測(cè)用電子顯微鏡的常識(shí)
當(dāng)一電子束穿過任一晶體的周期性晶格時(shí)，將會(huì)被衍射.如
果將透射電子顯微鏡的光學(xué)布置稍作改變，就能把試樣的衍射花
樣(而不是表面形貌圖象)投影在熒光屏上.如相對(duì)于光束的截面
積而言，晶體的尺寸足夠大，
則將產(chǎn)生衍射斑點(diǎn)并可用晶體結(jié)構(gòu)來
診釋.對(duì)于近似完整的晶體，還能看到菊池線(Kikuohi lines);
有時(shí)可用它們來測(cè)定晶體取向.由很多尺寸比光束面積小得多
的，并且無規(guī)則取向的小晶粒構(gòu)成的多晶體試樣，將產(chǎn)生圓環(huán)狀
的衍射花樣。取一級(jí)近似，環(huán)的直徑D可由下式給出(除非在試樣
與熒光屏之間還有放大級(jí)存在)，
后一篇文章：檢測(cè)金相顯微鏡通常使用小于100倍的放大倍數(shù) »
前一篇文章：« 顯微鏡觀察金屬絲網(wǎng)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)-金相分析儀器
tags:技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,
晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測(cè)用電子顯微鏡的常識(shí),金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/1809.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/