本文標題："礦物表面及顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)等特征測量金相顯微鏡"
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礦物表面及顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)等特征測量金相顯微鏡
礦石光片在磨制過程中，常因產(chǎn)生一層非晶質(zhì)薄膜充填于粒
狀礦物之間或復蓋于礦物表面而使其失去原有顆粒的形態(tài)、大小
以及顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)等特征，因此在礦相學研究中，還經(jīng)常采用結(jié)
構(gòu)浸蝕的方法，即采用特種試劑作用于礦物光面(九秒至幾分或
更長)，使被浸蝕的礦物經(jīng)溶蝕后，顯露出礦物顆粒形態(tài)和順粒
內(nèi)部結(jié)構(gòu)，以便于對礦石結(jié)構(gòu)和礦物內(nèi)部結(jié)構(gòu)的進一步觀察和研
究。
結(jié)構(gòu)浸蝕一般是在光片表面上滴一大滴試劑進行浸蝕，或采
用全而浸蝕。所用試劑種類隨礦物種類不同而異。礦物的結(jié)構(gòu)浸
蝕除常采用液休試劑外，有時還須采用氣體(如王水蒸氣，澳及
氯的蒸氣等)對光片進行浸蝕，如黃銅礦用王水蒸氣浸蝕后(約
10-30秒)即顯內(nèi)部結(jié)構(gòu)。對一些強非均質(zhì)礦物可采用正交偏光
法觀察其晶粒結(jié)構(gòu)，不必采用浸蝕法。
常見金屬礦物結(jié)構(gòu)浸蝕所用試劑可參閱各“礦相學”教程的有
關(guān)部分。
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