本文標(biāo)題："研究礦物的包裹體光學(xué)儀器-巖石礦物顯微鏡"
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研究礦物的包裹體光學(xué)儀器-巖石礦物顯微鏡
研究礦物的包裹體，目前國內(nèi)主要是測定礦物的成
礦溫度，為此，必須首先要把含有包裹體的巖石礦物磨制成兩而
磨光的透明薄片，以供在顯微鏡下進(jìn)行觀察研究。
根據(jù)均勻勻化法(均一法、均化法)測溫對(duì)礦物包裹體兩面
磨光透明薄片的要求，礦物包裹體測溫薄片要符合下列規(guī)格:
1)薄片要有代表性，要能盡量包括該標(biāo)本所反映的成礦齊
期次的礦物。
2)制成的薄片，含包裹體礦物的透明度要好(因?yàn)榘w
很小，如礦物不透明或透明度差，就很難找到包裹體)，同時(shí)均
勻勻化法測溫，它只適用于透明礦物，所以，薄片要求兩面拋光。
3)切片時(shí)要注意一定的晶向，以便研究各種包裹體的特
征。對(duì)結(jié)品好的礦物，各晶軸方向都要切一片，且要求片子不能
破碎。
4)制片整個(gè)工藝流程中，要求溫度控制在80℃以下，以保
證一些低溫的氣液包裹體不致爆破。
5)兩面磨光薄片的厚度一般為0.1-0.7毫米，主要視礦
物的透明度而定。
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