本文標(biāo)題："電阻率測量技術(shù)的應(yīng)用-金屬再結(jié)晶加工"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2015-5-4 16:40:57
電阻率測量技術(shù)的應(yīng)用-金屬再結(jié)晶加工
對于這樣的實驗，通常采用的溫度應(yīng)低于金屬再結(jié)晶的
溫度。由于區(qū)熔提純鋁中最容易發(fā)生結(jié)構(gòu)變化，冷加工甚至
應(yīng)該在低溫下進(jìn)行，實驗導(dǎo)致了確定冷加工條件的影響。它
表明冷加工溫度的降低引起再結(jié)晶溫度的下降:一個鋁樣品
在一18℃的冷室中軋制后，于 -38 ℃再結(jié)晶，而在液氮下
軋以同樣量以后，于 -52 ℃再結(jié)晶
這表明對于相同的形變量，在液氮下軋制，金屬中
貯存了較多的缺陷。電阻率測量直接表明這個差別.圖6是
在很不同的溫度條件下進(jìn)行軋制到截面收縮97a,o，然后立即
測量或者繼之在 -79 ℃的測量結(jié)果。
用電阻率測量褥到現(xiàn)象的總反映，用顯微觀察提供了一
種分別確定成核和長大特征的方法，同時用這兩種方法研究
了區(qū)熔提純鋁的再結(jié)晶。在大冷加工量的場合下，大多數(shù)實
驗在低于室溫下進(jìn)行，這是由于在14 ℃，作為一個例子，再
結(jié)晶只要經(jīng)半小時就完全了。電阻率測量研究表明再結(jié)晶自
始至終以恒定激活能進(jìn)行。這個激活能同顯微研究成核長大
現(xiàn)象中所測定的一樣，有很低的值。
后一篇文章：晶粒截面分析樣品,實際試樣中相鄰晶粒分析 »
前一篇文章：« 顯微鏡觀察含很少量雜質(zhì)元素金屬微觀結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
tags:材料學(xué),技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
電阻率測量技術(shù)的應(yīng)用-金屬再結(jié)晶加工,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/2485.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/