本文標(biāo)題："晶體工藝-磨料、磨具及各種材料的選用樣品檢測(cè)顯微鏡"
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晶體工藝-磨料、磨具及各種材料的選用樣品檢測(cè)顯微鏡
晶體工藝學(xué)是伴隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)而成長(zhǎng)起來(lái)的一個(gè)新的工
藝學(xué)分支。它涉及到結(jié)晶學(xué)、光學(xué)、固體物理等多種學(xué)科的有關(guān)
知識(shí)，具有與傳統(tǒng)的機(jī)械加工和光學(xué)加工迥然不同的特點(diǎn)和內(nèi)
容。這方面的成果已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子和激光等許多先進(jìn)的科學(xué)
技術(shù)領(lǐng)域。毫無(wú)疑問(wèn)，晶體工藝學(xué)已經(jīng)變得越來(lái)越為人們所重視。
加工有密切聯(lián)系的晶體物理學(xué)，包括晶體結(jié)構(gòu)、
X射線定向及晶體光學(xué)等方面的基礎(chǔ)知識(shí)；后半部分則著重介紹
晶體加工的：備個(gè)工藝環(huán)節(jié)，包括磨料、磨具及各種材料的選用，
晶體的切割，平面、球面及某些非球面的加工
測(cè)定完整球體曲率最簡(jiǎn)易的辦法就是用卡尺測(cè)量直徑。半徑
的倒數(shù)也就是曲率。至于大的球體可以用測(cè)量局部曲率的方法來(lái)
測(cè)量。所用的主要工具是測(cè)球儀，它測(cè)量曲率時(shí)僅僅利用所測(cè)表
面的一部分，所以用于不完整球體的測(cè)量是最適合的，但也能用
于圓柱體或雙曲面。
X射線定向固然是確定晶向的精確方法，但有時(shí)光學(xué)法卻更
為簡(jiǎn)便迅速，而且所用的儀器比較便宜，使用也較安全。正像第
四章中所指出的，光學(xué)法還可使隨后的X射線定向簡(jiǎn)化．
光學(xué)定向有兩種方法，即利用反射的和用雙折射的。在反射
法中也包括光雖然透過(guò)晶體但未涉及雙折射的那些情況。這方法
原理較簡(jiǎn)單，應(yīng)用也較廣泛，而且可用于自然面、解理面或者腐
蝕坑等。雙折射法對(duì)立方晶體無(wú)效，只適用于單軸晶體的部分晶
向及雙軸晶體——正交、單斜和三斜類的全部晶向；而反射法適
用于各類晶體。
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