本文標題："微量定量分析光學圖像顯微鏡,表面磨損觀測"
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微量定量分析光學圖像顯微鏡,表面磨損觀測
元素分析可按下面兩種方式進行
(a)記錄一點所發(fā)射的全x射線譜(點元素分析)。待檢測
點用一光學顯微鏡來選擇，而該顯微鏡能觀察真空室中的試樣并
確定其位置。
(b)把x射線分光計調整到某元素的特性線；然后對表面
進行掃描，所得到的結果以陰極射線管上的象的形式出現，管中
各點的強度(或點數)與元索的濃度大致成正比。微量分析器通
常備有二三個分光計，以便同時分析幾種元素。
傳統(tǒng)x射線定量分析，中出現的問題也是微量分析
中所固有的。這里，也需要用標準，自吸收校正曲線等來獲得定量
結果而使誤差達到最小。但是，微量分析為研究顯微組織提供了
可能性，從而保證能在其發(fā)展過程中繼續(xù)進行研究，掃描顯微鏡
是專門化儀器，而微量分析器較為通用，且可用作掃描顯微鏡．
應用 掃描電子顯微鏡正愈來愈多地用于研究匾體表面磨損
過程。這種儀器的主要特性是，襯比度高(由于“斜"’照明所致)、
視場深度大和放大率大。除了粗糙的車制
區(qū)外，還可看到非常平的磨合區(qū)。此表面的形成方式是可疑的．
在任何情況下，除了可能發(fā)生由于粒子分離而引起的傳統(tǒng)磨損
外，似乎還會在粗糙部分發(fā)生塑性變形，從而引起流動和表面材
料展平．這個過程的形成方式可在平區(qū)的邊緣上特別是在較高的
放大率下進行檢驗．
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