本文標(biāo)題："陶瓷顆粒氧化鋁顆粒光譜測定分析顯微鏡"
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陶瓷顆粒氧化鋁顆粒光譜測定分析顯微鏡
目前，對于結(jié)合使用陶瓷和超高分子量聚乙烯的假體組織樣本
，仍無法辨別其中所含的氧化鋁顆粒。無論是光學(xué)檢測，還是原子
吸收光譜測定或電子顯微探測分析都不能顯示出周圍組織中的氧化
鋁磨損顆粒。
由于其特有的物質(zhì)構(gòu)成和優(yōu)良的耐腐蝕性，所有組織制備技術(shù)
都不能使氧化鋁發(fā)生變化。從微觀的角度來看，陶瓷顆粒呈直徑為
0．5～10μm的細(xì)粒、碎片或較大碎片狀，大多數(shù)顆粒的直徑大約
為1肚m。界線呈直線狀，形成邊緣清晰的錐形顆粒。在普通光照下
，顆粒周圍顯現(xiàn)出清晰的深色邊緣，中心透明，幾乎無色，或顯現(xiàn)
淡灰陰影。最小的顆粒就不具有這種特性，因?yàn)樗鼈儧]有透明的中
心，為幾乎均質(zhì)的深色體。這可能與顯微放大不足有關(guān)。較小顆粒
的內(nèi)部結(jié)構(gòu)通常不可見，體積很大的顆粒呈現(xiàn)出斷裂的尖梢和邊緣
。
另外，其他顏色如紅色、橙色或藍(lán)色與底層或覆蓋組織染色有
關(guān)。氧化鋁本身不能被染色。在偏光下，依據(jù)其在組織切片中的晶
體取向不同，陶瓷顆粒會(huì)顯示出輕微到較強(qiáng)的雙折射特性。該特性
與大小和外形無關(guān)。此時(shí)，也可看見一種因染色導(dǎo)致的色彩。在區(qū)
分陶瓷顆粒與X射線造影劑時(shí)需要多加小心。如果不仔細(xì)觀察，很
難看出兩種顆粒在大小、外形和顏色上的不同。但是，它們具有以
下差別：陶瓷顆粒的大小范圍(約為0．5～10μm)比造影劑大(二氧
化鋯為2～8μm；硫酸鋇約2／zm；兩者的結(jié)塊大小均為40～100μm
)。造影劑更容易呈現(xiàn)為結(jié)塊，因?yàn)樗鼈冊诠撬嘀芯徒Y(jié)合在一起
了。造影劑的雙折射特性不受晶體取向的影響。
為了保證顆粒來源分析的準(zhǔn)確性，需要使用分析性方法，如電
子探針分析。同時(shí)，還應(yīng)該檢測是否存在金屬顆粒，它們可能產(chǎn)自
人工髖關(guān)節(jié)柄部與球頭錐形配合面之間的摩擦。
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