本文標(biāo)題:"粒徑大于lnm的顆粒明場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微分析顯微鏡"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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粒徑大于lnm的顆粒明場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微分析顯微鏡
分散度
分散度很容易定義,但準(zhǔn)確的測(cè)定卻幾乎不可能。分散度可以
定義為裸露在表面的原子數(shù)M與催化劑中總的原子數(shù)的比值。但是
Ⅳ。卻決定于對(duì)表面的定義以及測(cè)定所用的實(shí)驗(yàn)方法和計(jì)算用的模
型。例如,某些金屬晶面的排列較其他晶面更加緊密;最外層金屬
原子的開放程度將會(huì)決定次外層原子暴露于氣相的程度。
除了下面描述的化學(xué)吸附技術(shù)外,分散度還可以根據(jù)金屬顆粒
的尺寸大小計(jì)算得到。因此,為了對(duì)比不同表征方法獲得的結(jié)果,
必須考慮分散度和顆粒大小的關(guān)系。最常采用的顆粒形狀是球形或
半球形,對(duì)于金屬鉑來(lái)說(shuō)尤其如此。然而,隨著分散度接近于1,
可能會(huì)出現(xiàn)二維的盤狀結(jié)構(gòu)(或稱“木排”)。因此,分散度與晶粒
尺寸是相關(guān)的,但這一關(guān)系并不簡(jiǎn)單。擔(dān)載的顆粒很少呈現(xiàn)統(tǒng)一的
尺寸(單分散),而是存在顆粒尺寸的大小分布(多分散)。
因?yàn)殡娮语@微鏡不能測(cè)定粒徑低于某一數(shù)值的粒子,這一數(shù)值
是由用于測(cè)定的電子顯微鏡本身的分辨率決定的。
由載體引起的重疊影像會(huì)影響人們對(duì)金屬粒子的觀察能力,尤
其是當(dāng)載體具有一定晶體結(jié)構(gòu)時(shí)。重整催化劑的高分辨電子顯微照
片上發(fā)現(xiàn)了上述情況。載體引起的反差圖像會(huì)使金屬顆粒更加模糊
,從而使其更難分辨。在測(cè)定較小金屬顆粒的尺寸和形狀時(shí),載體
對(duì)分辨率和圖像反差的影響已在相關(guān)的理論研究文章中做出了討論
¨蚓。根據(jù)對(duì)圖像的計(jì)算分析,當(dāng)采用0.2nm點(diǎn)分辨率的顯微鏡觀
察1.9nm厚的無(wú)定形載體時(shí),1.2nm大小的立方八面體就無(wú)法被檢
測(cè)出來(lái)。粒徑大于lnm的顆粒通常很容易通過(guò)明場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微分析
被檢測(cè)出來(lái)。對(duì)于更小的顆粒,高角環(huán)形暗場(chǎng)成像技術(shù)很有用,因
為在高角上被散射的電子對(duì)于原子序數(shù)更加敏感;因此在高角條件
下與載體相比,鉑的靈敏度有所增加。
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