本文標題："高精度細微的零件/元件等測量工具顯微鏡"

高精度細微的零件/元件等測量工具顯微鏡

白光點光源搭配顯微PFP量測系統對微小物件之研究。顯微PFP量測系統采用非接觸式表面形貌量測，
具有高精確度及對環境的適應高等優點。系統光源由超短脈沖雷射，經聚光透鏡把激光束聚焦至光子晶體光纖里，
當超短脈沖雷射在光子晶體光纖里傳導時，會進行數個非線性光學，
所以最后在光子晶體光纖的出口端會形成非常完美的白光點光源。此光源具有下列優點：

（1） 對投影系統而言，其景深可視為無限長。
（2） 不具有雷射光斑的缺點，不會影響到顯微PFP系統量測的準確度。
由實驗可得到，以白光點光源作為顯微PFP量測系統之照明裝置，比其他照明設備具有更大的縱深量測范圍，
在相同操作條件底下，其增加的量測范圍約為1.5倍其他光源(雷射與鹵素光源)之范圍。
未來的研究方向，將利用此系統致力于半導體元件、微機電裝置與生醫科技（如生物細胞）之形貌量測

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