本文標題："熒光強度隨礦粒尺寸,熒光元素的礦粒的質(zhì)量"
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熒光強度隨礦粒尺寸,熒光元素的礦粒的質(zhì)量
XRF載流分析的進一步研究
礦漿的某些性質(zhì)、如固體百分含量、粒度分布、空氣含量
等，都對XRF分析精度有重大影響。使計數(shù)率與固體百分含量和
固體中元素濃度聯(lián)系起來的校準公式對精度可能也是很重要的。
礦粒尺寸的影響
一段時間來，人們認識到X RF分析粉末試樣時，粒度分布
對特定元素的X射線強度有重大影響。X RF分析前，實驗室甩
熔荊融化粉末試樣(制成玻璃態(tài)的試樣圓片)，以保證試樣均質(zhì)
及免除粒度的影響。而在載流分析中，粒度的影響不得不被默許。
粒度效應(yīng)是這樣引起的：當?shù)V粒尺寸大到足以與試樣激發(fā)出
來的x射線的穿透深度相比時，x射線實際上就僅由頂層的礦粒
產(chǎn)生。還可以觀察到下述的情況。含有發(fā)熒光元素的礦粒的質(zhì)量吸
收系數(shù)小于粉狀物料中共它礦粒。還發(fā)現(xiàn)，熒光強度隨礦粒尺寸
增大而減小。發(fā)熒光的礦粒具有較高的質(zhì)量吸收系數(shù)時，可以看
到其熒光強度較低。
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