本文標題："微觀結構分析方法-晶體學分析實驗圖像顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2016-6-22 21:16:24
微觀結構分析方法-晶體學分析實驗圖像顯微鏡
晶體學分析方法
晶體學分析技術基于采用x射線或者電子束伴隨的磁場(選區(qū)衍射)
衍射分析。這些技術在下列方面是很有用的：
·試樣中的物相；
·晶粒的晶體結構；
·透射顯微鏡下可觀察到的晶粒的結晶度。
選區(qū)衍射(SAD)微觀結構分析方法
微觀結構分析可采用掃描電鏡，隧道掃描電鏡和原子力顯微鏡對涂
層表面進行觀察，涂層的截面顯示了涂層的內(nèi)部結構。涂層中比較明顯
的特征，比如孔隙，裂紋和扁平顆粒，可以通過光學顯微鏡和掃描電鏡
進行觀察，最后，透射電鏡可觀察到單個小晶粒的內(nèi)部結構。光學顯微
鏡(OM)
光學顯微鏡，目前常使用的，它提供了涂層與基材最基本的信息
，這種手段可對如下進行分析：
·孔隙
·未熔顆粒
·基材的變形(機械變形或者熱變形)
·測試涂層中不同的相，比如金屬陶瓷涂層中金屬相和陶瓷相
·顆粒形成的扁平顆粒，有還原反應或者氧化反應
·固態(tài)夾雜，可能源于等離子噴涂時候銅顆粒或者鎢顆粒(在涂層
內(nèi))，或者源于涂層前處理(在基材與涂層界面)
后一篇文章：拉伸測試涂層粗糙度,金屬基體截面分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 顯微結構分析-(聚焦)鏡頭可以簡單批量地生產(chǎn)
tags:材料學,技術,礦物,實驗,金相顯微鏡,上海精密儀器,
微觀結構分析方法-晶體學分析實驗圖像顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應
本頁地址：/gxnews/3546.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/