本文標題："電子在經過了與樣品的相互作用后從樣品底部逸出"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2016-9-27 5:14:7
電子在經過了與樣品的相互作用后從樣品底部逸出
透射電子顯微鏡(TEM)
當需要對樣品進行高空間分辨率的檢測時，就要用到透射電子顯微
鏡(TEM)。樣品要足夠薄，使得電子束能夠透過，制備樣品時可直接減
薄或鑲好后減薄截面。如果興趣在于得到小的析出相的特征，可觀察從
樣品制得的碳萃取復型。
電子在經過了與樣品的相互作用后從樣品底部逸出。透射光束中的
電子基本上與樣品沒有任何相互作用就從樣品中穿過；衍射光束中的電
子沒有損失能量(彈性散射)，但是因滿足角度準則(與x射線的布拉格定
律相似)被散射到一個新的路徑。透射束和衍射束可用來形成樣品的高
分辨率(在1 nm級)圖像，衍射柬還用來形成樣品微小區域的選區衍射圖
(SAD)，它類似于XRD譜含有晶體學的信息。
與樣品相互作用后損失了能量的電子(非彈性散射)也逸出了樣品，
電子能量損失譜(EELS)就是以測量電子損失的能量為基礎，使進行高精
度化學分析成為可能。
最后，在TEM中激發的特征x射線和在SEM中一樣，經過采集分析可
得到化學成分信息，由于x射線是在比SEM小的樣品體積中產生，因此可
用來分析微小的形貌特征。
后一篇文章：應用光學顯微鏡觀察分析氧化膜的各種形貌特征 »
前一篇文章：« 氣相凝結或顆粒物凝結的沉積相分析顯微鏡
tags:材料學,技術,礦物,金相顯微鏡,上海精密儀器,
電子在經過了與樣品的相互作用后從樣品底部逸出,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/3749.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/
