本文標(biāo)題："接觸式量測(cè)粗度影像測(cè)量儀器-光學(xué)顯微鏡廠家"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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接觸式量測(cè)粗度影像測(cè)量儀器-光學(xué)顯微鏡廠家
由于工業(yè)加工時(shí)，加工物件材質(zhì)不宜以接觸式量測(cè)粗度，以免破壞材質(zhì)表面，
或需量測(cè)到高經(jīng)密度時(shí)須以非接觸式之光學(xué)顯微鏡量測(cè)來達(dá)成，
而本專題將利用 CCD 影像擷取，來做光學(xué)量測(cè)時(shí)環(huán)境因素對(duì)量測(cè)粗度精確值之最佳控因，
以期未來能以大范圍且快速、低成本之光學(xué)影像判別來達(dá)成粗度量測(cè)
經(jīng)由表面粗度儀量測(cè)出精確之粗度值與粗度曲線與經(jīng)由光學(xué)量測(cè)出之曲線比較，
使用田口式實(shí)驗(yàn)法(Taguchi Method)找出影響光學(xué)量測(cè)環(huán)境之最佳控因
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