本文標(biāo)題:"最常見的誤差來源是溫度的測量-礦物分析"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間:2019-9-15 22:7:8
最常見的誤差來源是溫度的測量-礦物分析
膨脹汁有很高的靈敏度。這種方法對于質(zhì)量控制測量和研究相轉(zhuǎn)
變也是很有用的。
在使用膨脹計時,一個最常見的誤差來源是溫度的測量。非常常
見的情況是所測的溫度并不是標(biāo)本的溫度。在溫度變化時測量溫度尤
其是如此。如果使用熱電偶,則必須仔細(xì)而小心地保證結(jié)點(diǎn)與標(biāo)本處
于同一溫度下。即使彼此接觸,它們也有可能處于不同溫度。另一個
誤差來源,特別是對于易彎物質(zhì)或者是接近其軟化溫度的物質(zhì)來說,
乃是在挺桿負(fù)荷下的變形作用。對于這些軟物質(zhì)必須使用一些特殊的
技術(shù)方法,例如增大樣品半徑,減小挺桿壓力以及使用水平支架等。
這種方法的不肯定性取決于所用的挺桿的質(zhì)量和設(shè)備的精度。在
日常工作中可以得到不肯定性為百分之二或三的結(jié)果。
干涉儀
如果用成平行的光照射稍微傾斜的表面,在垂直的入射線(對所
有光線來說都是9二o)方向上觀看,能觀察到同樣傾斜的條紋。當(dāng)表
面是平面時,條紋是直的,否則,它們則決定于表面的等高線分布。
后一篇文章:巖石中離子擴(kuò)散水泥礦化分析顯微鏡 »
前一篇文章:« 孔隙或儲存地層巖芯分析圖像光學(xué)顯微鏡
tags:精密儀器,技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
最常見的誤差來源是溫度的測量-礦物分析,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址:/gxnews/5161.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/