本文標題："顯微鏡分析固體材料表面的顯微結(jié)構(gòu)與化學成分"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2013-4-23 17:35:15
隨著微電子與奈米科技的發(fā)展，材料的結(jié)構(gòu)尺寸不斷地趨于淺薄細微，使得其表面與介面特性的影響度
相對地大幅提高。因此精確量測及分析奈米結(jié)構(gòu)的表面和物體介面的物理化學特性，
是加速此研究領(lǐng)域發(fā)展極為重要的工作。X 光光電子能譜術(shù)(X-ray PhotoelectronSpectroscopy, XPS,
或稱為化學分析電子能譜術(shù)，Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA)為
分析固體材料表面的電子結(jié)構(gòu)與化學成分之重要方法。它除了有很高的表面靈敏度以及甚佳的化學分析能力，光
子輻射線對于物質(zhì)的破壞性較低且電荷的累積效應也較輕微，因此被廣泛地應用于金屬，半導體，非導體以及
有機材料的研究。XPS 之分析功能是藉著各化合物不同化學結(jié)合狀態(tài)產(chǎn)生之位移
(Chemical state or bonding shift) 來測量的。一般的 ESCA 分析儀器因 X 光光源強度不足，
難以做細微的局部化學分析，在目前商業(yè)產(chǎn)品中有改良式電子透鏡的 ESCA 偵測系統(tǒng)，但空間解析度
仍難超越 3 微米左右，其區(qū)域解析功能甚為有限。
后一篇文章：火焰處技術(shù)一般常使用在聚烯類的高分子材料 »
前一篇文章：« 小透鏡、微形模具及其它小形極精密組件檢測顯微鏡
tags:精密儀器,金屬,金相顯微鏡,上海精密儀器,
顯微鏡分析固體材料表面的顯微結(jié)構(gòu)與化學成分,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應
本頁地址：/gxnews/691.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/