本文標(biāo)題："超高分辨顯微學(xué)研究所需專門設(shè)備實(shí)驗(yàn)室顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-8-7 10:12:10
超高分辨顯微學(xué)研究所需專門設(shè)備實(shí)驗(yàn)室顯微鏡
鑒于高分辨率工作中干涉效應(yīng)的重要性，我劃出了單獨(dú)幾章專
門討論相干性和波動(dòng)光學(xué)。其中包含了一些數(shù)學(xué)內(nèi)容，但我已盡量
使其簡(jiǎn)化。
遺憾的是：雖然理論家們作了很大努力，但是尚未只到一般樣品的高
分辨率象和樣品結(jié)構(gòu)之間某種簡(jiǎn)單的解析關(guān)系。因此必須仔細(xì)研究
可以用樣品結(jié)構(gòu)作簡(jiǎn)單圖象解釋時(shí)的各種不同的實(shí)驗(yàn)條件。只有理
解了影響圖象的實(shí)驗(yàn)參量，才能對(duì)某種特定樣品的實(shí)驗(yàn)條件作出明
智的選擇。例如，高分辨率的暗場(chǎng)象很可能包含一些錯(cuò)誤的特征。
然而，由于制樣技術(shù)的進(jìn)展(現(xiàn)在有些樣品可以制成僅為幾個(gè)nm厚)
和使用了較高的加速電壓，所以有關(guān)成象的最簡(jiǎn)單理論很可能繼續(xù)
流行下去。
超高分辨顯微學(xué)研究所需專門設(shè)備的少數(shù)研究性實(shí)驗(yàn)室。目前這些
方法正迅速普及。
若圖象分辨率限制在0．36am左右，則現(xiàn)在可能提出一種直
接的步驟來(lái)記錄許多樣品的象，它們可以無(wú)困難地按樣品結(jié)構(gòu)予以
解釋。
常規(guī)透射型電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡相比，就其圖象襯度(強(qiáng)
度變化)是由于樣品上逐點(diǎn)的光學(xué)吸收不同所引起的，從這一點(diǎn)來(lái)
看，兩者是極其相似的。許多電子顯微學(xué)家也用類似的方法來(lái)解釋
其電鏡象，他們用‘吸收’來(lái)表示電子在物鏡孔徑(aperture，或
光闌)。外的散射。實(shí)際上電子絕不會(huì)被樣品‘吸收’，它們只能
因大角度散射到物鏡光闌以外而從圖象中丟失，或者是由于在樣品
中能量損失和波長(zhǎng)變化，它們可能在距顯示彈性散射象的觀察屏較
遠(yuǎn)的一個(gè)平面上聚焦。
故這種離焦非彈性’散射或能量損失象
對(duì)正聚焦(in-foeus)彈性散射象的影響，只是提供了一個(gè)均勻的背
景。 因而圖象襯度一般可理解為由于在大角度散軌即大‘質(zhì)量厚
度’區(qū)域產(chǎn)生的強(qiáng)度損失而造成的，這種大角度散射射線被物鏡光
闌所截住。描述這個(gè)過(guò)程的理論是非相干成象理論
通過(guò)比較可知，高分辨率透射電子顯微鏡與光學(xué)相(位)襯(度)
顯微鏡(phasecon~rastmicroscope)是十分類似的。
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