本文標(biāo)題："礦石冶金的礦物組成結(jié)晶粒度直徑分析圖像顯微鏡"
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礦石冶金的礦物組成結(jié)晶粒度直徑分析圖像顯微鏡
礦石浮選性質(zhì)的變化
除了從磨礦回路中排出的礦漿所具有的磨礦細(xì)度、固體含量
和體積流量發(fā)生變化外，礦石的礦物組成、原礦品位、結(jié)晶粒度
和氧化程度也會(huì)發(fā)生變化。
煤浮選回路控制系統(tǒng)的發(fā)展不如硫化礦浮選回路那么快，主
要原因是沒有煤漿中應(yīng)用的碳或灰分的在線測量儀器。最近研制
成了一種能在較寬的范圍內(nèi)精確測量煤漿灰分的儀器，故可以有
把握地預(yù)料，煤浮選回路的計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制會(huì)有一個(gè)迅速的發(fā)
展。目前所處的最初階段也正在發(fā)展中。
煉焦煤浮選的目的是獲得灰分或不燃物含量低于某一水平的
精礦。煉焦煤灰分的允許含量一般為9％(按重量)。浮選還使
黃鐵礦含量高的鍋爐煤中硫含量降低，這一點(diǎn)隨這種煤的應(yīng)用日
益增大而顯得更重要。煤易浮，但浮選過程很容易受到干擾而使可
燃物的回收率降低，或使精礦質(zhì)量下降，而達(dá)不到要求：煤浮選回
路自動(dòng)化的目的是保證回路在接近最佳條件下工作，該最佳條件
是進(jìn)入流程中的煤所要求的最佳條件。
礦漿和選礦中其它液流的載流分析為冶金學(xué)家提供了強(qiáng)有力
構(gòu)工具，它促進(jìn)了選礦工藝的明顯改善。在選礦廠安裝載流分析
系統(tǒng)，可對選礦過程和選礦廠給料質(zhì)量變化的響應(yīng)進(jìn)行研究。根
據(jù)研究的結(jié)果，便可決定如何使過程穩(wěn)定以及如何進(jìn)行自動(dòng)控
制。安裝了自動(dòng)控制系統(tǒng)后，還可能使控制系統(tǒng)的參數(shù)最優(yōu)化，以
獲得高的回收率、節(jié)約藥劑、改善分選效果。而所有這些又將導(dǎo)
致選礦廠獲得更高的利潤。
礦漿最常見的測量是濃度(或固體重量的百分含量)及有用
礦物或金屬的含量。濃度通常用y射線透射濃度計(jì)測量，有用礦
物采用X射線熒光測量(XRF)。兩者都?xì)w類于核技術(shù)。
在這一部分里將介紹用于礦漿分析的X射線技術(shù)，并補(bǔ)充一
些其它應(yīng)用y射線或中子的重要核技術(shù)。
附件1提供了有關(guān)XRF技術(shù)的物理學(xué)、輻射源和探測器的
背景資料，以及載流分析的計(jì)算實(shí)例。
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